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日本理学波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析

返回列表 来源: 仪德 发布日期: 2020.11.20
广州仪德精密科学仪器股份有限公司专业销售日本理学波谱,波谱不限于材料的形状,应用多领域金属元素的测定分析。本文章简单介绍日本理学ZSXPrimusⅣ波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析,为矿石领域对岩石测定分析提供宝贵经验。


日本理学ZSXPrimusⅣ波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析


使用仪器分析室内置的相机将岩石样品中需要关注的测量范围放大后进行了分析。

红框内扩大了的范围由右图表示。

可以更精密地指定测量位置。

面扫3描分析结果

面扫3描分析结果


微区测绘

测绘数据的测绘视图统合为以摄像图和数据(图、测量数据)来表示。图示种类有不同模式,可以采用有效的图示。

微区测绘


各测量点的Mg-Kα的谱线比较

各测量点的Mg-Kα的谱线比较


SQX方法做的定点分析结果

SQX方法做的定点分析结果


γ-θ样品台彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体反射强度不均的问题,保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。

测量


测角仪快速扫描定位精度在土0.00010之内。γ-θ平台分辦率为100μm,实现了快速精确的点、线、面分析。

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