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影响光谱仪谱线强度的因素

返回列表 来源: 仪德 发布日期: 2020.08.31


X射线荧光光谱法的定量分析是以荧光X射线的强度为依据的,因此,一切影响X射线荧光光谱仪射线强度的因素都必将影响分析的准确度。


1、基体效应

基体效应包括吸收效应及增强效应两种效应。

吸收效应包括基体对入射X射线的吸收及对荧光X射线的吸收。因为用入射X射线激发样品时,它不只是作用于样品表面而且能穿透一定的厚度进入样品内部,同样,样品内部分析元素产生的荧光X射线,也必须穿过一定厚度的样品才能射出。显然,在穿透过程中,这两种X射线都会因基体元素的吸收而使其强度减弱,入射X射线强度的减弱会影响对分析元素的激发效率,而X射线荧光强度的降低则直接影响分析准确度。

若入射X射线使某基体元素激发所产生的荧光X射线的波长稍短于分析元素的吸收边,它便会使分析元素ipA发产生二次荧光X射线,从而使分析元素的荧光X射线强度增强,这就是墓体的增强效应。

如果吸收效应占主导地位,则分析结果偏低,如果增强效应占主导地位,则分析结果偏高。


2、不均匀效应

不均匀效应系指样品颗粒大小不均匀及样品表面光洁度对荧光X射线强度的影响。对于粉末样品,大颗粒吸收效应强,小颗粒吸收效应弱,因此,要求颗粒粒度尽量小一些,以减少对X射线的吸收。测员短波X射线时,一般要求粒度在250目以上,测量波长大于0.2nm的长波x射线时,则要求粒度在400目以上。

固体块状试样的丧而一定要磨平抛光,对粉末试样则要求压实并使表面平滑。粗糙表面会使荧光X射线的强度明显下降。测量短波X射线时,要求光洁度在1005m左右,测量长波X射线时,光洁度为20-50Mm


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