日立FT110A台式XRF镀层测厚仪，锌层测厚仪-仪德科技

日立FT110A台式XRF镀层测厚仪

FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合严苛标准。

准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心，而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用，提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材，将全天候支持您的设施满足行业电镀规范。

技术规格

FT110A – 测量极小目标

FT110A 帮助诸多的行业确保符合电镀规范，以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。此外，该仪器可减少一系列测量所需的时间，从而帮助提高生产力。

在任何质量保证或质量控制系统中，准确性和可靠性均至关重要，拥有改良的 X 射线荧光技术的FT110A将使您的产品满足最高标准的行业规范要求。

借助更新的成像系统、全新的自动测量定位功能和大型样品台，确保这台镀层分析仪易于使用并提高分析效率。

基于Windows系统的X-ray Station软件提供直观的用户界面，用户可对该仪器进行全面控制。

通过将数据直接整合到 Microsoft™ Word和Excel中来简化您的质量保证/质量控制流程。

FT110A测厚仪

为何如此多的实验室改为使用 FT110A？

快速分析

强大的高灵敏度分析组件可以在数秒内测量镀层厚度和成分。

无损

X 射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹。即使是对敏感性材料，其测量也是安全的；同时无需丢弃被测量过的样品。

多功能性

FT110A 可以分析多达四层镀层和基材。可以使用基本参数 (FP) 或经验校准来测量镀层和材料成分（如金属合金或电镀液）。

易于使用

培训可轻松完成，因此任何人都可以操作 FT110A。只需在工作台上设置样品，借助友好的界面指定测量区域，然后开始记录读数。用户界面可配置为仅显示日常操作所需的功能。

快速分析

强大的高灵敏度分析组件可以在数秒内测量镀层厚度和成分。

兼容性

测量方法符合标准 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。

FT110A操作简单

产品亮点

专为高通量生产而设计，来看 FT110A 如何支持您的质量控制。

: 手持式LIBS铝合金全元素光谱仪

激光诱导击穿光谱（LaserInducedBreakdownSpectroscopy,简称LIBS）是一种原子发射光谱。它利用高能量聚焦脉冲激光光束激发样品表面，对产生的原子光谱进行分析得到对应元素成分及含量。是一种快速、定性定量的分析手段。随着激光器以及光谱仪小型化技术的发展，轻便的手持LIBS分析仪成为现实。其优势在于能将精密的分析仪器带到生产的第一线，主要用于铁基、铝基、铜基、镍基等金属合金材料的现场牌号鉴别及合金元素成分的快速鉴定。手持LIBS分析仪能对生产过程进行高速，高效的监控，完善企业质量管理体系，提高生产效率，是工业生产过程中的一个不可或缺的环节。

: 手持式XRF涂层测厚仪德国斯派克

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