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FT160台式XRF适用于电子元件镀层分析

FT160台式XRF适用于电子元件镀层分析

FT160台式XRF镀层测厚仪,旨在测量当今PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。
日立CMI511手持式带温度补偿孔铜镀层测厚仪

日立CMI511手持式带温度补偿孔铜镀层测厚仪

CMI511带来独有的温度补偿功能铜箔厚度测量,该功能可减少废料并避免昂贵的返工。该仪表的自动温度校正可实现极高的准确性,即使对已经从电镀槽中提起的板材,也能准确测量。
日立FT110A台式XRF镀层测厚仪,锌层测厚仪

日立FT110A台式XRF镀层测厚仪,锌层测厚仪

FT110A是一款台式XRF分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的X射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合严苛标准。
日立X-Strata920 镀层测厚仪,台式XRF镀层测厚仪

日立X-Strata920 镀层测厚仪,台式XRF镀层测厚仪

X-Strata920是一款高精度台式XRF镀层测厚仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的涂层,适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析

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