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: 同步热重分析仪 NEXTA STA 系列

日立的NEXTASTA系列热分析仪使得材料热性能的分析无论在研发阶段还是生产阶段都变得十分简单。STA同步热重分析仪具有卓绝的基线稳定性、世界一流的灵敏性，能够检测较大温度范围内极小的重量变化，确保材料满足相关性能和质量标准要求。

: FT160台式XRF适用于电子元件镀层分析

FT160台式XRF镀层测厚仪，旨在测量当今PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。

: FT230：具有高级功能的微焦斑 XRF 用于大批量镀层分析

FT230的每个设计元素均旨在减少完成XRF测量所需的时间，有助于更快地根据测试结果采取行动，减少浪费并提高工作效率。从根本上说，我们让操作人员与仪器的交互变得越来越简单。

: 新品速递 | 德国斯派克推出新一代 SPECTRO xSORT XHH04

新版SPECTROxSORT手持式荧光（ED-XRF）光谱仪是德国斯派克分析仪器公司结合自身对行业应用的透彻领悟和现场金属测量领域的丰富经验，厚积薄发打造的一款创新型便携式荧光光谱分析仪。集一系列实用功能和创新设计为一身，在大幅提高用户的分析速度、保证易用性和操作便利性的同时，保持了德国制造的优异分析性能。

: 德国斯派克手持式能量色散X射线荧光光谱分析仪

手持X射线荧光光谱仪SPECTROxSORT对金属冶炼，金属铸造，机械加工，废旧金属回收，金属压力容器（管道/阀门），PMI等金属应用;食品安全/环保（土壤环境监测，RoHS/WEEE有毒有害物质管控），地质勘探，矿产贸易，玩具检测、考古分析、应急检测等行业的复杂应用，SPECTROxSORT（全功能）可以在几秒钟的单一分析周期内完成从AL-U等多种元素的分析，并产生媲美实验室的分析结果。

: 日立FT110A台式XRF镀层测厚仪，锌层测厚仪

FT110A是一款台式XRF分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的X射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合严苛标准。

: 日立X-Strata920 镀层测厚仪，台式XRF镀层测厚仪

X-Strata920是一款高精度台式XRF镀层测厚仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的涂层，适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析

: 日立EA1280 台式荧光光谱仪，XRF分析仪

EA1280是日立专为RoHS有害物质限制设计的XRF分析仪，15年来一直受到信任，为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量，您可以确保能够满足环境法规的要求。为什么选择日立XRFRoHS分析仪?操作方便可自动采样灵活校准以适应新的RoHS标准自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果快......

: 日立EA1000AIII 台式X射线荧光光谱仪，台式XRF荧光分析仪

EA1000AIII旨在加速和简化生产环境中的RoHS测试。该分析仪有助于满足当前的RoHS、EN71和无卤素指令，并允许随着指令的变化更新物质控制标准。

: STRUCTUREEXPERT 金相分析仪金相分析设备 Struers司特尔

StructureExpert是专用于特殊应用的一体化解决方案，专为生产和实验室环境而设计。StructureExpert突破了传统技术，消除了传统耗时的定位和调节工作，可在30秒内有效验证样品，可提供符合生产节奏的关键质量控制数据。

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