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台式测厚仪

FT160台式XRF适用于电子元件镀层分析

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FT160台式XRF镀层测厚仪,旨在测量当今PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。
FT230:具有高级功能的微焦斑 XRF 用于大批量镀层分析

FT230:具有高级功能的微焦斑 XRF 用于大批量镀层分析

FT230的每个设计元素均旨在减少完成XRF测量所需的时间,有助于更快地根据测试结果采取行动,减少浪费并提高工作效率。从根本上说,我们让操作人员与仪器的交互变得越来越简单。
台式XRF镀层测厚仪

日立FT110A台式XRF镀层测厚仪,锌层测厚仪

FT110A是一款台式XRF分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的X射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合严苛标准。
日立X-Strata920 镀层测厚仪

日立X-Strata920 镀层测厚仪,台式XRF镀层测厚仪

X-Strata920是一款高精度台式XRF镀层测厚仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的涂层,适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析

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